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高频微波介电常数试验仪

型 号GD*AT

更新时间2020-03-31

厂商性质生产厂家

报价1099

产品描述:高频微波介电常数试验仪介质损耗是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。

产品概述

高频微波介电常数试验仪电介质在外电场作用下,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,或简称介质损耗(diclectric  loss)。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能,而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。

测量方法的选择:

 GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。

1  零点指示法适用于频率不超过50  MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法;也就是在接人试样和不接试样两种状态下,调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联  T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作,就可采用保护电极;它没有其他网络的缺点。

2 谐振法适用于10  kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量,常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。

 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的,叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书

 

主要技术特性:

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

使用方法

高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

1.测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)

 

 

高频/音频介电常数测试仪GDAT-A原始包装:

请保留所有的原始包装材料,如果机器必须回厂维修,请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时,请务必将全部的附件一起送回,请注明故障现象和原因。另外,请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。

安全注意事项:

开机之前,敬请仔细阅读本  使用指南,以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前,请阅读“安装与设置”,保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前,务必请有操作经验的人员进行指导,防止误操作造成意外事件的发生。电击危险:  确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电,防止在带电情况下,对人员或设备造成伤害。

注意事项:  1、该仪器初始的包装材料需小心保存,安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修,必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前,操作者要首先熟悉操作方法。

高频微波介电常数试验仪技术参数:

1.Q值测量

a.Q值测量范围:2~1023。

b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c.标称误差

     频率范围(100kHz~10MHz):  频率范围(10MHz~160MHz):

     固有误差:≤5%±满度值的2%  固有误差:≤6%±满度值的2%

     工作误差:≤7%±满度值的2%  工作误差:≤8%±满度值的2%

2.电感测量范围:4.5nH~7.9mH

3.电容测量:1~205

     主电容调节范围:18~220pF

     准确度:150pF以下±1.5pF;  150pF以上±1%

     注:大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

4.   信号源频率覆盖范围

     频率范围CH1:0.1~0.999999MHz, CH2:  1~9.99999MHz,

     CH3:10~99.9999MHz, CH1  :100~160MHz,

5.Q合格指示预置功能:      预置范围:5~1000。

6.B-测试仪正常工作条件

a.   环境温度:0℃~+40℃;

b.相对湿度:<80%;

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

7.其他

a.消耗功率:约25W;

b.净重:约7kg;

c.  外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

影响介电性能的因素

 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。

1频率

 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和  tans几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。

 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.

2温度

 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。

3湿度

 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的.

 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内

4电场强度

 存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。

 在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关

 

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