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ASTMD150介电常数测定仪

型 号GDAT-A

更新时间2021-06-03

厂商性质生产厂家

报价18000

产品描述:ASTMD150介电常数测定仪简介:
介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。

产品概述

ASTMD150介电常数测定仪技术参数:
1.  信号源: 10KHZ-70MHz 
2.  采样精度:11BIT
3.  Q测量范围:1-1000自动/手动量程
4. Q分辨率:0.1
5.  Q测量工作误差<5%
6. 电感测量范围:分辨率0.1nH1nH-8.4H , 分辨率0.1nH


7.  电感测量误差<3%
8. 调谐电容:主电容30-540pF
9. 电容直接测量范围:1pF~2.5uF
10. 调谐电容误差:±1 pF或<1% 0.1pF
11.  谐振点搜索:自动扫描
12. Q合格预置范围:5-1000声光提示
13  LCD显示参数:F,L,C,Q,Lt,Ct波段等  
14.  介质损耗系数精度:万分之一
15. 介电常数精度:千分之一
16. 材料测试厚度:0.1mm-10mm

技术:
1.仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。
2.大电容值直接测量显示。
3.数显微测量装置,直接读值。


参考标准:
1.GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法;
2.GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;
3.ASTM-D150-介电常数测试方法。
4.GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

ASTMD150介电常数测定仪测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。

技术特性:

Q值测量范围:        2~1023,量程分档:30、100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档

固有误差:≤5% ± 满度值的2%(200kHz~10MHz),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

工作误差:≤7% ± 满度值的2%(200kHz~10MHz),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)

电感测量范围:        4.5nH~140mH

电容直接测量范围:    1~200pF

主电容调节范围:      18~220pF

主电容调节准确度:    100pF以下 ±1pF;100pF以上 ±1%

信号源频率覆盖范围:  100kHz~160MHz

频率分段(虚拟):  100~999.999kHz, 1~9.99999MHz,10~99.9999MHz,100~160MHz

频率指示误差:        3×10 -5±1个字

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