介电常数介质损耗因数检测仪

 介电常数介质损耗因数检测仪技术参数:

信号源频率范围:      DDS数字合成 10KHz-70MHz

Q测量范围:          1-1000自动/手动量程

信号源频率覆盖比:   6000:1

Q分辨率:           4位有效数,分辨率0.1

信号源频率精度:   3×10-5 ±1个字,6位有效数

Q测量工作误差:       <5%

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电感测量范围:       15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH

调谐电容:           主电容30-500PF

电感测量误差:       <5%

调谐电容误差和分辨率:±1.5P或<1%

标准测量频点:       全波段任意频率下均可测试

Q合格预置范围:       5-1000声光提示

谐振点搜索:       自动扫描

Q量程切换:           自动/手动

谐振指针:           LCD显示

LCD显示参数:       F,L,C,Q,波段等

介电常数介质损耗因数检测仪

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介电常数测试仪GDAT高频Q表

介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据

介电常数介质损耗(介质损耗角)测试仪 
 
型号:GDAT-C

介电常数测试仪主要特点:
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 

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介电常数测试仪主要技术特性:
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zei低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

介质损耗测试装置

介质损耗测试装置与精密数字电桥配用,能对薄膜和各种板材绝缘材料进行高低频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

本测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用电桥作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的D值(损耗因素)变化和Cp(电容值)读数通过公式计算得到。

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