全自动介质损耗测试仪/介电常数测试仪

介电常数介质损耗试验仪

介电常数介质损耗试验仪：GDAT-A

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
二、介电常数介质损耗试验仪的技术指标

  1．Q值测量
   a．Q值测量范围：2～1023。
    b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
     c．标称误差

   6．Q表正常工作条件：
a. 环境温度：0℃～+40℃；                     
  b．相对湿度：<80％；  
    c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
   7．其他
   a．消耗功率：约25W；  
     b．净重：约7kg；  
       c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
 

项    目
GDAT-A
直接测量范围
1～460pF
主电容调节范围
准确度
30～500pF
150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1％
   注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
   4．介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围
项     目
GDAT-A
频率范围
10kHz～50MHz
频率分段
（虚拟）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz     
频率指示误差
      3×10-5±1个字
          Q合格指示预置功能
               预置范围：5～1000。
 

介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
电感：
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4         0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9        0.125μH