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*介电常数测试仪/介质损耗测试仪

型 号gdat-c

更新时间2016-08-15

厂商性质生产厂家

报价12

产品描述:介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

产品概述

介电常数测试仪/介质损耗测试仪足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
一、介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内zui高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术:

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 
双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路zui优化 —使测试回路 残余电感减至zui低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 

 
一、介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

主要技术特性  
Q 值测量范围  2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作误差  ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
电感测量范围  4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围  1 ~ 200pF  
主电容调节范围  18 ~ 220pF  
主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 )  100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字 

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