产品概述
介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
一、介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述
GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术：
| 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 |
| 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 |
| 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 |
| 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 |
| 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 |
| DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 |
| 计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低， Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 |
一、介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要技术特性
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围 1 ～ 200pF
主电容调节范围 18 ～ 220pF
主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz
频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字
