产品概述
介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法、
电感：
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
主要技术特性
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ，
量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围 1 ～ 200pF
主电容调节范围 18 ～ 220pF
主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz
频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz，1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz，100 ～ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字
BD916介质损耗测试装置技术特性
平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低， Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具
，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
介电常数介质损耗测试仪使用步骤 如下：
测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按键，打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始值设置为0。
4．介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
Σ＝D2 / D4
5．介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数
?式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）
C0 为测试电感的分布电容（参考LKI-1 电感组的分布电容值）
