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介电常数介质损耗测试仪厂家供应

型 号gdat-a

更新时间2018-08-15

厂商性质生产厂家

报价11

产品描述:介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

产品概述


介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法、

电感:
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
 
  主要技术特性  
Q 值测量范围  2 ~ 1023 ,

量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作误差  ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)  
电感测量范围  4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围  1 ~ 200pF  
主电容调节范围  18 ~ 220pF  
主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 )100 ~ 999.999kHz,1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

BD916介质损耗测试装置技术特性 

平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围:≥15mm 
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.测微杆分辨率:0.001mm


计算机自动修正技术和测试回路zui优化 —使测试回路 残余电感减至zui低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 
gdat高频Q表的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具
,测量值更为精确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。  

介电常数介质损耗测试仪使用步骤 如下:

测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取250uH,15MHz时电感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按键,打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆,使平板电容器二极片相接为止,长按SET按键将初始值设置为0。

4.介电常数Σ的测试

a. 再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点上。

b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,此时调节平板电容器,使Q 表再回到谐振点上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4

c. 计算被测样品的介电常数:
                   Σ=D2 / D4
5.介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间,改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点上,读得Q 值,记为Q2。电容读数记为C2。

b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,再改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值,记为Q1。电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置,再改变Q 表上的主调电容容量,重新使之谐振,电容读数记为C3,此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 -C1

d. 计算被测样品的介质损耗系数

?式中:CZ 为测试装置的电容(平板电容器二极片间距为样品的厚度D2)
C0 为测试电感的分布电容(参考LKI-1 电感组的分布电容值)

 

 

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