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新型介电常数介质损耗测试仪

型 号gdat-c

更新时间2018-08-15

厂商性质生产厂家

报价16

产品描述:介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

产品概述

介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置,电感器及标准介质样品组成,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2.1 tanδε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~60MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

      tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

      tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

 

2 主要技术指标:
2.1 测试信号频率范围:10kHz~60MHz,数字合成,可数字设置或连续调节,五位有效数显。
2.2 Q值测量范围:1~1000四位数显,分辨率0.1Q。分100、316、999三档,量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差:±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围:0.1µH~1000mH。
2.5 电感测量误差:≤5%±0.02µH
2.6 调谐电容特性:
2.6.1可调电容范围:40pF~500 pF。
2.6.2 精确度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4残余电感值:约30nH。
2.7 Q预置功能:Q预置范围:1~1000均可。

1工作特性
1.1 平板电容器:
1.1.1 极片尺寸:
 c类-38:Φ38mm.
  c类-50:Φ50mm. 
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率:
  ≥8mm, ±0.002mm
1.2 夹具插头间距:
  25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
  ≤2.5×10-4

附表二,LKI-1电感组典型测试数据

线圈号 测试频率         Q值   分布电容p     电感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

 

标签:介电常数介质损耗测试仪 介电常数测试仪 介质损耗测试仪  介质损耗介电常数测试仪

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