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介电常数测试仪/介质损耗测试仪

型 号GDAT-A

更新时间2023-08-05

厂商性质生产厂家

报价

产品描述:介电常数介质损耗测试仪技术特性
Q 值测量范围 2 ~ 1023
固有误差 ≤ 5 %
工作误差 ≤7%
电感测量范围 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围 1 ~ 200pF
主电容调节范围 18 ~ 220pF
主电容调节准确度 ± 1 %
信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz
频率分段 ( 虚拟 ) 100 kHz ~ 16

产品概述

介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

介电常数介质损耗测试仪技术特性  
Q 值测量范围  2 ~ 1023 
固有误差  ≤ 5 % 
工作误差  ≤7% 
电感测量范围  4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围  1 ~ 200pF  
主电容调节范围  18 ~ 220pF  
主电容调节准确度 ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 )  100 kHz ~ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

介电常数介质损耗测试仪技术特性 

平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围:≥15mm 
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.测微杆分辨率:0.001mm

 

介电常数介质损耗测试仪概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 

介电常数介质损耗测试仪特点

双扫描技术/ 双测试要素输入 / 双数码化调谐 /自动化测量技术 /全参数液晶显示  /DDS 数字直接合成的信号源  /计算机自动修正技术和测试回路*化 


gdat高频Q表的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具

 

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