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介电常数介质损耗测试仪生产厂家

型 号GDAT-A

更新时间2017-08-08

厂商性质生产厂家

报价

产品描述:介电常数介质损耗测试仪

产品概述

介电常数介质损耗测试仪主要技术特性  


Q 值测量范围  2 ~ 1023 自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 %(10MHz~160MHz)  
工作误差  ≤7% (10MHz~160MHz)  
电感测量范围  4.5nH ~ 140mH  
电容直接测量范围  1 ~ 200pF  
主电容调节范围  18 ~ 220pF  
主电容调节准确度   ± 1 %  
信号源频率覆盖范围  100kHz ~ 160MHz  
频率分段 ( 虚拟 ) 100kHz ~ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

 

介电常数介质损耗测试仪技术特性 

平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围:≥15mm 
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.测微杆分辨率:0.001mm

 

介电常数介质损耗测试仪概述

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内zui高的160MHz。


介电常数介质损耗测试仪多项技术:

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 

双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 
 

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。 

计算机自动修正技术和测试回路zui优化 —使测试回路 残余电感减至zui低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 
 

 

介电常数介质损耗测试仪电感器:

按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。

例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。

 

高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。

 

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

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