介质损耗因数介电常数测试仪

 介质损耗因数介电常数测试仪安全注意事项

4.1 使用前务必详阅此说明书，并遵照指示步骤，依次操作。

4.2 请勿使用非原厂提供之附件，以免发生危险。

4.3 进行测试时，本仪器测量端高压输出端上有直流高压输出，严禁人体接触 ，以免触电。

4.4 为避免测试棒本身绝缘泄漏造成误差，接仪器测量端输入的测试棒应尽可 能悬空，不与外界物体相碰。

4.5 当被测物绝缘电阻值高，且测量出现指针不稳现象时，可将仪器测量线屏 蔽端夹子接上。 例如：对电缆测缆芯与缆壳的绝缘时，除将被测物两 端分 别接于输入端与高压 端，再将电缆壳 ，芯之间的内层绝缘物接仪器 “G”，以消 除因 表面漏电而 引起的测量误差。也可用加屏蔽盒的方法， 即将被测物置于金属屏蔽盒内，接上测量线。

 介电常数介质损耗测试仪装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4

 介电常数介质损耗测试仪特点： 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。

绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

介电常数介质损耗测试仪电感器：

按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。

例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。

高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

介电常数介质损耗测试仪使用条件

①环境温度： 0～40℃

②相对温度：≤70%

③供电电流：交流 220V±10%50Hz

2.3 仪器可连续工作 8 小时

2.4 消耗功率：约 10W

2.5 外形尺寸：长宽深 355mm×320mm×145mm

2.6 重量：约 6kg(主机)

介电常数介质损耗测试仪使用方法

1. 被测样品的准备

被测样品要求为园形，直径25.4～27mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1～5mm之间，如太薄或太厚则测试精度就会下降，样品要尽可能平直。

下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚0.05mm的园形锡膜，直径和平板电容器极片*，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作用，又能排除接触面之间残余空气，把锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳，然后放上被测样品。

2. 测试顺序

先要详细了解配用仪器的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。

1. 把配用的仪器主调谐电容置于zui小电容量，微调电容置于－3pF。
2. 把本夹具测试装置插到仪器测试回路的“电容”两个端子上，即插入到仪器上方接线铜柱的右边两个圆柱内。

1. 配上相适应的高Q值电感线圈，选择电感没有特别的方法，只有试或凭经验来选择合适的那个，一般选择使高频仪器显示Q值zui大的电感zui为合适。

注：以上步骤是为了使高频仪器工作起来（仪器是LC谐振工作原理，所以要选择合适的电感才能使仪器谐振）

1. 调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为D_O。
2. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D₁，这时样品厚度D₂= D₁－D₀。

注：以上d和e两步是测出被测样片的厚度，方便后面计算介电常数时用。

1. 把园筒电容器置于7mm处（该值不是的，我们一般在测的时候放到7mm处就可以测了，不过有的时候在做到h步0骤时顺时针旋转完刻度了Q值还没有达到一半，这时就要适当的把7mm刻度调整到9mm或更大了）。
2. 改变配合仪器频率，使之谐振，读得Q值。（如果测试材料样片有“要求的测试频率”，那么就先把频率定位到该频率，然后再调节仪器的主调电容，使仪器谐振（即仪器的Q值显示为zui大）；如果不知道在频率下测试的话，我们一般把频率放在1MHz下来调试，然后再调节主调电容使仪器工作）。
3. 先顺时针方向，后逆时针方向，调节园筒电容器，读取当仪器指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值，取这二个值之差，记为M₁。（先记下园筒电容在7mm时仪器谐振时的zui大Q值，即d步骤测得的Q值；然后调节园筒电容器，看仪器的Q值显示为原来的一半时，读取园筒电容器上边的刻度为多少，要顺时针和逆时针旋转两次取两个刻度值；如果园筒电容器顺时针转到0刻度时Q值还没有到一半，那么就要返回到第f步骤把园筒电容器置于9mm处或更大，重新操作）。
4. 再调节园筒电容器，使仪器再次谐振（即把园筒电容器调回到7mm处）。
5. 取出平板电容器中的样品，这时仪器又失谐，调节平

板电容器，使再谐振，读取测微杆上的读值D₃，其变化值为

D₄= D₃－D₀。

1. 和h款操作一样，得到新的二个值之差，记为M₂。

3.  计算测试结果

被测样品的介电常数：

Σ＝D₂ / D₄

被测样品的损耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 15.5                     

式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.33。

4.  其他应用使用方法

使用本测试装置和仪器配用，对绝缘材料以及其他高阻性能的薄材，列如：优质纸张、优质木材、粉压片料等，进行相对测量，其测试方法就非常简便、实用，采取被测样品和标准样品相比较方法，就能灵敏地区别二者之间的轻微差别，例如含水量、配用原料变动等等。

测试时先把标准样品放入平板电容器，调节仪器频率，谐振后读得Q值，再换上被测样品，调节园筒电位器，再谐振，看Q值变化，如Q值变化很小，说明标准样品和被测样品高频损耗值*，反之说明二者性能有区别，如园筒电容器调节不能再谐振，通过调节仪器频率才能谐振，且频率变化较大，说明被测样品和标准样品的配用原材料相差较大。