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塑料陶瓷介电常数测试仪

型 号GDAT-A

更新时间2023-08-06

厂商性质生产厂家

报价

产品描述:塑料陶瓷介电常数测试仪 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10

产品概述

塑料陶瓷介电常数测试仪装置:

2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4


塑料陶瓷介电常数测试仪使用条件

①环境温度: 0~40℃

②相对温度:≤70%

③供电电流:交流 220V±10%50Hz

2.3 仪器可连续工作 8 小时

2.4 消耗功率:约 10W

2.5 外形尺寸:长宽深 355mm×320mm×145mm

2.6 重量:约 6kg(主机)


安全注意事项

4.1 使用前务必详阅此说明书,并遵照指示步骤,依次操作。

4.2 请勿使用非原厂提供之附件,以免发生危险。

4.3 进行测试时,本仪器测量端高压输出端上有直流高压输出,严禁人体接触 ,以免触电。

4.4 为避免测试棒本身绝缘泄漏造成误差,接仪器测量端输入的测试棒应尽可 能悬空,不与外界物体相碰。

4.5 当被测物绝缘电阻值高,且测量出现指针不稳现象时,可将仪器测量线屏 蔽端夹子接上。 例如:对电缆测缆芯与缆壳的绝缘时,除将被测物两 端分 别接于输入端与高压 端,再将电缆壳 ,芯之间的内层绝缘物接仪器 “G",以消 除因 表面漏电而 引起的测量误差。也可用加屏蔽盒的方法, 即将被测物置于金属屏蔽盒内,接上测量线。


工作特性

   1Q值测量

  aQ值测量范围:21023

  bQ值量程分档:301003001000、自动换档或手动换档;

c.标称误差


A

C

频率范围

25kHz~10MHz

100kHz~10MHz

固有误差

≤5%±满度值的2%

≤5%±满度值的2%

工作误差

≤7%±满度值的2%

≤7%±满度值的2%

频率范围

10MHz~60MHz

10MHz~160MHz

固有误差

≤6%±满度值的2%

≤6%±满度值的2%

工作误差

≤8%±满度值的2%

≤8%±满度值的2%

   2.电感测量范围

A

C

14.5nH~8.14H

4.5nH~140mH

3.电容测量


A

C

直接测量范围

1~460p

1~205p

主电容调节范围

40~500pF

18~220pF

准确度

150pF以下±1.5pF;

150pF以上±1%

150pF以下±1.5pF

150pF以上±1%

   注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。

   4.信号源频率覆盖范围

    

A

C

频率范围

10kHz~60MHz

0.1~160MHz

CH1

10~99.9999kHz

0.1~0.999999MHz

CH2

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

CH3

1~9.99999MHz

10~99.9999MHz

CH4

10~60MHz

100~160MHz

频率指示误差

3×10-5±1个字


  5Q合格指示预置功能:预置范围:51000

   6Q表正常工作条件

   a. 环境温度:0+40℃;

  b.相对湿度:<80%;

  c.电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

   7.其他

  a.消耗功率:约25W

   b.净重:约7kg

   c.外型尺寸:(宽××深)mm380×132×280




测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)


主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。




特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。


工作频率范围是10kHz~120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。




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