介电常数测试仪生产厂家

介电常数测试仪生产厂家特点： 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

介电常数测试仪生产厂家主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作频率范围：50kHz～50MHz    四位数显，压控振荡器

Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率

可调电容范围：40～500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差：±1%±1pF

Q表残余电感值：约20nH

使用方法

1. 被测样品的准备

被测样品要求为园形，直径25.4～27mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1～5mm之间，如太薄或太厚则测试精度就会下降，样品要尽可能平直。

下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚0.05mm的园形锡膜，直径和平板电容器极片*，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作用，又能排除接触面之间残余空气，把

锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳，然后放上被测样品。

测试顺序

先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。

1. 把配用的Q表主调谐电容置于zui小电容量，微调电容置于－3pF。
2. 把本测试装置插到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
3. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈
4. 调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为D_O。
5. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D₁，这时样品厚度D₂= D₁－D₀。
6. 把园筒电容器置于5mm处。
7. 改变配合Q表频率，使之谐振，读得Q值。
8. 先顺时针方向，后逆时针方向，调节园筒电容器，读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值，取这二个值之差，记为M₁。
9. 再调节园筒电容器，使Q表再次谐振。
10. 取出平板电容器中的样品，这时Q表又失谐，调节平

板电容器，使再谐振，读取测微杆上的读值D₃，其变化值为

D₄= D₃－D₀。

1. 和h款操作一样，得到新的二个值之差，记为M₂。

3.  计算测试结果

被测样品的介电常数：

Σ＝D₂ / D₄

被测样品的损耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 15.5

式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.33 / mm，每个测试夹具在盒盖内标有具体数值。

一般按以上公式计算的结果，其精度和重复性是能满足的，但对介电常数大的被测样品（即样品从平板样品放入和取出，平板电容器刻度值变化较大），边缘效应电容对测试会有较显著的影响，这时可按下列公式计算：

Σ＝（C₂ + C_F2－C_F）/ C₁

tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 3.46（C₂ + C_F2－C_F）/ C₁