绝缘介电常数介质损耗因数测试仪

绝缘介电常数介质损耗因数测试仪特点： 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

绝缘介电常数介质损耗因数测试仪仪器技术指标：
☆Q值测量：
a．Q值测量范围：5～999。 b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。
c．标称误差
频率范围：25kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；
频率范围：10MHz～50MHz； 固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。
☆电感测量：
a．测量范围：0.1μH～1H。
b．分 档：分七个量程。
0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 
0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。
☆电容测量：
a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；
b．电容量调节范围
主调电容器：40～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
微调电容量：－3pF～0～＋3pF； 准 确 度：±0.2pF。
☆振荡频率：
a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；
b．频率分档
25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。
c．频率误差：2×10-4±1个字。
☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。
☆仪器正常工作条件

a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 
☆试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时）

☆其他

a．消耗功率：约25W；

b．净重：约7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

☆ Q合格指示预置功能
预置范围：5～1000。

仪器特点：
☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。

☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。

☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。
☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。

☆CVT测量 *自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。

一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个zui终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。

测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。

☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。
（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。
（3）接地检测：            仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。
（4）防误操作：             具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。
（5）防“容升”：           测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。
☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。
☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。
☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。
☆可选购与计算机通信应用程序。

介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作频率范围：

50kHz～50MHz    四位数显，压控振荡器

Q值测量范围：

1～1000三位数显，±1Q分辨率

可调电容范围：

40～500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差：

±1%±1pF

Q表残余电感值：

约20nH

介电常数介质损耗测试仪装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：:

Φ38mm和Φ50mm二种.

2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：

0～8mm， ±0.01mm

2.3.3 圆筒电容器线性：

 0.33 pF /mm±0.05 pF, 

2.3.4 圆筒电容器可调范围：

±12.5mm（±4.2pF）

2.3.5 装置插头间距：

25mm±0.1mm

2.3.6 装置损耗角正切值:

≤2.5×10-4

测微电极：两个螺旋测微器，左边是微调圆筒式电容，测量损耗正切时起调节作用。右边是平板测量电容，样品（5）被夹在平板电容两个极板（4，6）之间，测量介电常数起调节作用。

两个电容属于并联关系，是谐振电路的一部分。

二  测试电路原理

振荡器输出频率可调的正弦信号，通过调节电容使电路谐振；在电路谐振状态下，调节可变电容得到相应测量参数，推算被测样品的介电常数和损耗正切值。

左边可调电容就是圆筒微调电容，右边固定电容就是平板测量电容，两个极板之间是否有样品，电路的行为是不一样的。

仪器面板如下：

1-6为按键：

1 频率搜索 2频率暂停 3 频率加 4频率减  5电感切换+  6电感切换-

7为通道选择波段开关，左中右3个档

8为辅助电容调节旋钮，顺时针到头=电容zui小

三  测试操作与原理

把高Q值电感线圈L和测微电极安装在相应插孔上。开机出现画面：

F=仪器产生的信号频率，Q=仪器测量的当前谐振状态（Qzui大时=谐振中心点），L=用户所配电感，对不同电感仪器提示选择不同的通道。

1 测介电常数

调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为DO。

再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D1，这时样品厚度D2= D1－D0。

选钮8顺时针拧到头。

开机，按5号键或6号键选择电感；按照提示，通过选钮7调节通道。

按1号键（自动）搜索频率，Q达到zui大，自动锁定频率。

（如Q比较小，再次按1号键搜索频率；还可以通过3，4号键手动调节频率找到zui优谐振频率）

取出平板电容器中的样品（切记不要调节频率），这时Q表又失谐，调节平板电容器，使再谐振（只调节平板电容，不调节频率，Q再次达到zui大），读取测微杆上的读值D3，其变化值为D4= D3－D0。

被测样品的介电常数：Σ＝D₂ / D₄

2 测损耗角正切值

把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止。

选钮8顺时针拧到头。

开机，按5号键或6号键选择电感；按照提示，通过选钮7调节通道。

自动搜索频率，使之谐振，读得Cx值，记为C1。

取出平板电容器中的样品，调节平板电容器，使它再回到夹住样品的间距。

自动搜索频率，使之谐振，读得Cx值，记为C2。

把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止。

把园筒电容器置于10mm处。

自动搜索频率，使之谐振，读得Q值。

先顺时针方向，调节园筒电容器，读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上一个刻度值；后逆时针方向，调节园筒电容器，再次读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上一个刻度值，取这二个值之差，记为M1。

取出平板电容器中的样品，调节平板电容器，使它再回到夹住样品的间距。

再把园筒电容器置于10mm处。自动搜索频率，使之谐振，读得Q值。

先顺时针方向，调节园筒电容器，读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上一个刻度值；后逆时针方向，调节园筒电容器，再次读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上一个刻度值，取这二个值之差，记为M2。

被测样品的损耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ [2(C1-C2)]

式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.5pF / mm。

四  注意事项

1 谐振状态时，时间不能太长，以免电源过热

2 不同电感谐振频率范围不同：