当前位置:首页   >    产品中心   >    介电常数介质损耗因数测试仪   >    工频介电常数测试仪   >   GDAT-A薄膜工频介电常数测试仪北京供应商 产品展示

薄膜工频介电常数测试仪北京供应商

型 号GDAT-A

更新时间2016-10-08

厂商性质生产厂家

报价

产品描述:1.平板电容器
极片尺寸:φ25.4mm
极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm
2.园筒电容器
电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF
长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夹具插头间距:25mm±1mm
4. 夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)

产品概述

介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对绝缘材料进行

高低频介电常数(ε)和介质损耗角(Dtanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及

IEC60250规范要求。

      GDAT 系列介电常数测试仪工作频率范围是20Hz1MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介

电常数(ε)和介质损耗角 (Dtanδ)变化的测试。

  GDAT系列中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用高频阻抗分析

仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D(损耗

)变化和Cp(电容值)读数通过公式计算得到。

1 特点:


 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF6D值显示,保证了εD值精度和重复性。

 介电常数测量范围可达1105

 

 

 

2 主要技术指标:

2.1 εD性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz1MHzεD变化的测试。
2.1.2 εD测量范围:ε1105D0.10.00005
2.1.3 εD测量精度(10kHz):ε±2%  D±5%±0.0001

 

2.2高频阻抗分析仪和数字电桥

型号

GDAT-S

工作频率范围

20Hz1MHz

数字合成,精度:±0.02%

电容测量范围

0.00001pF9.99999F

六位数显

电容测量基本误差

±0.05%

损耗因素D值范围

0.000019.99999

六位数显

 

 

 

 

高频介质样品(选购件):

    在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石,石英玻璃, 氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚12mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。

 

 

GDAT系列 介电常数测试仪配置

配置类型

标准型

电桥工作频率范围

20Hz1MHz

精度:±0.02%

配置型号

高频阻抗分析仪

三电极测试装置

介电常数范围

1-100

精度:±2%

损耗因素D值范围

0.000019.99999

六位数显

 

 

 

 

选购件:

    在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质

样品。该样品由人工蓝宝石,石英玻璃, 氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚

12mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
联系人:陈丹
手机:
18911395947
点击这里给我发消息