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高频Q表法介电常数介质损耗测试仪

型 号GDAT-A

更新时间2017-02-03

厂商性质生产厂家

报价31

产品描述:高频Q表法介电常数介质损耗测试仪

产品概述

高频Q表法介电常数介质损耗测试仪由916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。

 

 

 

高频Q表法介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH

 

 

 

电感测量

a.测量范围:0.1μH~1H。

b.分 档:分七个量程。

0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,

0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。

 

 

 

振荡频率

a.振荡频率范围:25kHz~50MHz;

b.频率分档:

25~74kHz, 74~213kHz, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,

1.95MHz~5.2MHz, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz。

c.频率误差:2×10±1个字。

Q合格指示预置功能,预置范围:5~999。

 

 

 

各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。

 

它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

 

1、液体介电常数测定仪

2、低频介电常数测试仪

3、高频介电常数测试仪

4、塑料介电常数测试仪

5、聚乙烯介电常数测定仪

6、硅橡胶介电常数测定仪

7、橡胶介电常数测定仪

8、材料介电常数测定仪

9、薄膜介电常数测定仪

10、聚酯薄膜介电常数测试仪

11、聚合物介电常数测量仪

12、介电常数及介质损耗测试仪

 

 

 

装置:

2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4

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