高频Q表法介电常数介质损耗测试仪

高频Q表法介电常数介质损耗测试仪由916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。

高频Q表法介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作频率范围：50kHz～50MHz    四位数显，压控振荡器

Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率

可调电容范围：40～500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差：±1%±1pF

Q表残余电感值：约20nH

电感测量

a．测量范围：0.1μH～1H。

b．分 档：分七个量程。

0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，

0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。

振荡频率

a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；

b．频率分档：

25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，

1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。

c．频率误差：2×10±1个字。

Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。

各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

1、液体介电常数测定仪

2、低频介电常数测试仪

3、高频介电常数测试仪

4、塑料介电常数测试仪

5、聚乙烯介电常数测定仪

6、硅橡胶介电常数测定仪

7、橡胶介电常数测定仪

8、材料介电常数测定仪

9、薄膜介电常数测定仪

10、聚酯薄膜介电常数测试仪

11、聚合物介电常数测量仪

12、介电常数及介质损耗测试仪

装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4