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绝缘材料击穿强度试验仪/介电常数介质损耗测试仪

型 号BDJC-50KV

更新时间2023-08-05

厂商性质生产厂家

报价

产品描述:满足标准:GB1408-2006 、 GB/T3333 、 HG/T 3330、 GB12656 、ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.

介电常数介质损耗测试仪 介质损耗因数测试仪
它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

产品概述

介电强度击穿电压试验仪,击穿强度试验仪, 电压击穿试验仪, 绝缘材料击穿电压试验仪,耐电压击穿强度试验仪  介电击穿强度试验仪,耐电压强度试验仪  
产品名称:电压击穿试验仪 
产品型号:BDJC-50KV
控制方式:微机控制
满足标准:GB1408-2006 、 GB/T3333 、 HG/T 3330、 GB12656 、ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.
一、电压击穿试验仪 ,适用范围及功能
电压击穿试验仪, 主要适用于固体绝缘材料(如:塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质)在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。
二、电压击穿试验仪 ,技术要求:

01、输入电压: 交流 220 V
02、输出电压: 交流 0--50 KV ; 
               直流 0—50 KV
03、电器容量: 3KVA
04、高压分级: 0-10KV,0--50KV,
05、升压速率:
 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S  3000V/S 等
              (备注:满足标准要求并可以根据用户需求设定不同的升压速率)
06、试验方式:
           直流试验:1、匀速升压  2、梯度升压 3、耐压试验 
           交流试验:1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验
07、电压击穿试验仪 ,试验介质:空气,试验油
08、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.05S内切断电源。
09、采用智能集成电路进行匀速升压。
10、支持短时间内短路试验要求。
11、电压试验精度: ≤ 1%。
12、试验电压连续可调: 0--50KV。
13、电流可采集到m*。
14、出具*计量单位校准检定证书或出具客户计量单位的证书。
15、电源:220V±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率。
16、电流电压稳定度: 外界电源电压波动10%时

电压击穿试验仪常规型号为:

  BDJC-10KV  BDJC-20KV  BDJC-30KV   BDJC-50KV  BDJC-100KV 

 

 

介电常数介质损耗测试仪   介质损耗因数测试仪

它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

c类数显Q表工作频率范围是10kHz~60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理,以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值,电感量和分布电容量;电容器的电容量和损耗角。配以夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗(tanδ)和介电常数(ε),高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照国家计量检定规程:“JJF1073-2000高频Q表校准规范”执行。

 

1 特点:
◎ 本公司创新的自动Q值读取技术,使测Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成发生1kHz~70MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感,保证高频时直读Q值的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 数字化Q值预置,能提高批量测试的可靠性和速度。

 

2 主要技术指标:
2.1 测试信号频率范围:1kHz~70MHz,数字合成,可数字设置或连续调节,五位有效数显。
2.2 Q值测量范围:1~1000四位数显,分辨率0.1Q。分100、316、999三档,量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差:±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围:0.1µH~1000mH。
2.5 电感测量误差:≤5%±0.02µH
2.6 调谐电容特性:
2.6.1可调电容范围:40pF~500 pF。
2.6.2 精确度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4残余电感值:约30nH。
2.7 Q预置功能:Q预置范围:1~1000均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量:415×180×170(mm),6.5kg。

BH916 介质损耗测试装置(数显)

 

   BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
  本测试装置是由测微平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样,由平板电容器的刻度读数变化,通过公式计算得到介电常数。

1工作特性
1.1 平板电容器:
1.1.1 极片尺寸:
  WY916D-38:Φ38mm.
  WY916D-50:Φ50mm. 
1.1.2 极片间距可调范围和分辨率:
  ≥8mm, ±0.002mm
1.2 夹具插头间距:
  25mm±1mm
1.3夹具损耗角正切值
  ≤2.5×10-4

附表二,LKI-1电感组典型测试数据

线圈号 测试频率         Q值   分布电容p     电感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

 

标签:介电常数介质损耗测试仪 介电常数测试仪 介质损耗测试仪  介质损耗介电常数测试仪

 

 

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